Test

KERF-20-I. Belastende Kindheitserfahrungen - eine komprimierte Interviewversion

Author(s) / Creator(s)

Thekkumthala, D.
Schalinski, I.
Schauer, M.
Ruf-Leuschner, M.
Elbert, T.

Editor(s)

Leibniz-Institut für Psychologie (ZPID)

Other kind(s) of contributor

Open Test Archive

Abstract / Description

Es handelt sich hierbei um eine komprimierte Interviewversion des KERF-I, die bislang noch nicht validiert wurde (Stand: März 2023). Weitere Informationen finden sich unter https://www.testarchiv.eu/de/test/9006899.

Persistent Identifier

Date of first publication

2023-03-22

Language of content

German

Publisher

ZPID (Leibniz Institute for Psychology) – Open Test Archive

Citation

Thekkumthala, D., Schalinski, I., Schauer, M., Ruf-Leuschner, M. & Elbert, T. (2023). KERF-20-I. Belastende Kindheitserfahrungen - eine komprimierte Interviewversion. In Leibniz-Institut für Psychologie (ZPID) (Hrsg.), Open Test Archive. Trier: ZPID. https://doi.org/10.23668/psycharchives.12603
  • Author(s) / Creator(s)
    Thekkumthala, D.
  • Author(s) / Creator(s)
    Schalinski, I.
  • Author(s) / Creator(s)
    Schauer, M.
  • Author(s) / Creator(s)
    Ruf-Leuschner, M.
  • Author(s) / Creator(s)
    Elbert, T.
  • Editor(s)
    Leibniz-Institut für Psychologie (ZPID)
    de_DE
  • Other kind(s) of contributor
    Open Test Archive
    en
  • PsychArchives acquisition timestamp
    2023-03-22T11:17:13Z
  • Made available on
    2023-03-22T11:17:13Z
  • Date of first publication
    2023-03-22
  • Abstract / Description
    Es handelt sich hierbei um eine komprimierte Interviewversion des KERF-I, die bislang noch nicht validiert wurde (Stand: März 2023). Weitere Informationen finden sich unter https://www.testarchiv.eu/de/test/9006899.
    de_DE
  • Publication status
    publishedVersion
    en
  • Review status
    reviewed
    en
  • Citation
    Thekkumthala, D., Schalinski, I., Schauer, M., Ruf-Leuschner, M. & Elbert, T. (2023). KERF-20-I. Belastende Kindheitserfahrungen - eine komprimierte Interviewversion. In Leibniz-Institut für Psychologie (ZPID) (Hrsg.), Open Test Archive. Trier: ZPID. https://doi.org/10.23668/psycharchives.12603
  • Persistent Identifier
    https://hdl.handle.net/20.500.12034/8134
  • Persistent Identifier
    https://doi.org/10.23668/psycharchives.12603
  • Language of content
    deu
  • Publisher
    ZPID (Leibniz Institute for Psychology) – Open Test Archive
    en
  • Is part of
    KERF-I
  • Is related to
    https://doi.org/10.23668/psycharchives.12495
  • Dewey Decimal Classification number(s)
    150
  • Title
    KERF-20-I. Belastende Kindheitserfahrungen - eine komprimierte Interviewversion
    de_DE
  • DRO type
    test
    en
  • Visible tag(s)
    Testarchiv
    de_DE